回复darksea102发表于：2020/7/12 21:51:47悬赏金额：
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未解决
TEM样品制备一直是个很苦恼的问题，我做的是含TiO2的无机粉体材料，粉末较粗，大概在2个微米左右。并且我需要观察反应界面层的透射斑点变化情况，从而得到晶体结构改变的信息。目前，想到的方法是将粉末用PVB粘结压片后将PVB加热除去，然后得到的样品压片切割，减薄。但是征求了分析测试中心老师的意见，他认为这样的压片根本没办法切割，会破碎掉。所以他建议我把粉末样品研磨至纳米，然后观察，但是这样一来就不容易找到处于反应界面上的粉末颗粒了，向大家求教，该怎么制备TEM样品？谢谢大家了。
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