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共有 2 人回复了该问答
金属TEM电镜,如何消除或降低干涉条纹?
回复
ysuren
发表于:2020/7/12 9:17:05
悬赏金额:
17积分
状态:
未解决
现在做金属的透射,晶粒内部有写位错结构和析出的小粒子。但是干涉条纹很重,导致找出来的电镜照片效果很差。尤其是1um以下的粒子,内部基本看不出具体的情况来。试着转了一下带轴(本人不是很专业,就是转到了一些菊池线密集的交点),得到的明场像中,粒子基本就全黑了。周围很白。仍然看不清楚。不知道有没有更好地办法,或者我的带轴转得不对,应该转到特定的方向上。
PS:我做的是六方结构的Zr金属。
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回复
1#
coime
回复于:2020-07-12 11:13:05
不知道你所的指的干涉条纹是什么,是厚度效应引起还是其他
1um的已经粒子很大了,
粒子由于有一定厚度,衬度自然要比基体黑,再加上你的在正轴状态下,在孔洞边缘的粒子越黑,说明离正带轴越近
你可以选择在粒子和基体的界面出做选区衍射,分别做明场(物镜光阑用3号或4号)和中心暗场(暗场应选择粒子的衍射斑点,这样粒子就是亮的,基体是黑的)
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