【序号】：1 【作者】：Wayne E. King1, Geoffrey H. Campbell1, Alan Frank1, Bryan Reed1, John F. Schmerge2, Bradley J. Siwick3, Brent C. Stuart4, and Peter M. Weber5 【题名】：Ultrafast electron microscopy in materialsscience, biology, and chemistry 【期刊】：J. Appl. Phys. 97,111101 (2005) 【全文链接】：http://apl.aip.org/resource/1/applab/v89/i4/p044105_s1?isAuthorized=no
【序号】：2 【作者】：T. LaGrange1, M. R. Armstrong1, K. Boyden1, C. G. Brown1, G. H. Campbell1, J. D. Colvin1, W. J. DeHope1, A. M. Frank1, D. J. Gibson1, F. V. Hartemann1, J. S. Kim1, W. E. King1, B. J. Pyke1, B. W. Reed1, M. D. Shirk1, R. M. Shuttlesworth1, B. C. Stuart1, B. R. Torralva1, andN. D. Browning2 【题名】：Single-shotdynamic transmission electron microscopy 【期刊】：Appl. Phys. Lett. 89, 044105 (2006) 【全文链接】：http://apl.aip.org/resource/1/applab/v89/i4/p044105_s1?isAuthorized=no
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