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共有 5 人回复了该问答ED-XRF测试CdS膜层均匀性
 回复yulafeng发表于：2020/8/15 15:50:20悬赏金额：3积分 状态：未解决
求助：
        最近希望利用ED-XRF测试CdS膜层的均匀性。
1，测试时会有Ar K线系与Cd L线系重叠；
2，但样品室不能抽真空，也没法在探测器附近吹N2气，排除Ar的影响；
3，如果能通过Auto focus让探测器与每个测试点的距离保持一致；
      是否可以认为每个点的测试结果中Ar的影响是一样的，可以相对的测试出Cd的信号强弱变化，从而得出不同位置的CdS的膜层厚度？
 
 回复  1# ljzllj  回复于：2020-08-15 16:10:20
先考虑Rh对Cd的干扰吧。相对于Ar来说，Rh对Cd的干扰更大一些。
建议用Cd的K线，使用黄铜滤光片，或者换一个不是Rh靶的光管，直接测CdKa线即可。
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