其实怎么说啊~~如果你测微量以及痕量的物质肯定有影响，主要是影响一个检出限以及灵敏度，因为雾化效率越好，单位进去的物质越多，检测器得到的信号就越强，检测器的检出限也就越低，反正ICP原理搞懂了，很多东西就很容易解析了

[ICP-AES雾化器流量对测试结果的影响主要体现在雾化后的效率，雾化后的液滴是否均匀，一般雾化器流量和溶液的进样速度有关系

雾化器流量 (对于质量流量控制配置的仪器) ，该参数也会较大影响谱线的信号强度。硬谱线的信号强度会随雾化气压力/流量的减小而增大。降低雾化气压力/流量会使等离子体中心通道的温度有效提高，因此对于高能级的跃迁是很有利的。例如对于 Pb II 220.35 nm ，雾化气的压力/流量甚至可以降低到 145 KPa (0.5L/min)。当然，其它操作条件的影响、雾化器的类型以及样品的基体也会有一定影响。
另一方面，对软谱线强度进行优化，适当提高雾化气的压力/流量则可以得到较好的效果。比如 增加到 260 KPa (0.9L/min) 。
对于方法当中软硬谱线均存在的样品，则应当综合考虑，选取折中的条件来进行。

雾化器的流量决定等离子体的发射强度值，在稳定流量下，标准和样品的发射强度比例算出目标物质含量，所以稳定的流量下影响程度应该不会太大，但是我个人看，应该会影响到仪器的检测限。具体可以由仪器工程师给出权威解释，或者可以做几个对比试验，只是在雾化器不同流量情况下试验同一种样品，可以是标准溶液样品。