所有提问
色谱 | 光谱 | 质谱 | 波谱 | 显微镜 | 物性测试 | 样品前处理 | 常用设备 | 食品检测 | 药物分析 | 环境监测 | 实验室建设/管理 | 认证认可 | 基础知识    更多>>
未解决的问题：146794
所有仪器问答：170757
我要提问
 您现在的位置：首页 > 仪器问答 > X射线仪器 > X射线衍射X射线衍射论坛
共有 4 人回复了该问答硅片及表面硫化镉薄膜的XRD图
 回复aaronfirst发表于：2011/4/15 20:40:51悬赏金额：0积分 状态：已解决
我用PLD在100的硅片上长多晶薄膜，之前硅片先清洁过然后送去测了个XRD，发现69的地方有一个400的峰，前面还有两个峰包，不知道是怎么回事，是二氧化硅还是什么。而且后面那个峰包前面有点高，是不是400的二次衍射峰

后来在400度左右镀了一层硫化镉，硫化镉没有完全覆盖硅片表面，32那个峰包前面变高了，而且也找不到对应的硫化镉的线，不知道为什么这个衍射峰会加强，
请大家帮忙解答下，谢谢


 回复  1# handsomeland  回复于：2011/4/17 9:55:39
1、普通粉末XRD仪上观测到二次衍射的可能性不大，图1中的两个峰我认为是杂质。
2、图2中的两个新峰既然不是CdS，那么可能是S,Cd，Si的一元、其他二元或三元化合物。
扫一扫查看全部4条回复
高级回复快速回复【花三五分钟，帮别人解决一个问题，快乐自己一天！】
未解决问题