回复nudtjimmy发表于:2010/8/6 23:05:33悬赏金额:
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未解决
最近在学习使用高分辨透射电镜Tecnai F20,现有两个问题向各位大侠请教:
1、我在测试SiC纳米线(111晶面间距为0.25nm)的时候,很多时候在高分辨下得到的是一维条纹结构(即只有一个方向的条纹),今天下午却偶然之间得到了非常漂亮的二维晶格结构图像(即可以看到单个原子的排列),我再去观察别的纳米线却得不到了。以前记得有本书上说只有在入射电子束与样品晶格结构呈特定 的位相关系情况下,就可以得到清晰的二维晶格条纹。我想请问各位老师,该怎么去调节仪器或样品以得到漂亮的二维晶格结构图像呢?
2、在测样品电子衍射图谱的时候,先在TEM模式下找到目标区,然后套光阑点衍射模式,进行选区衍射拍摄。但这样做得到的图谱往往很不好看,得到的衍射斑点很杂乱,我通过调整相机常数是无法解决的,请问各位老师这种情况该怎么办?似乎是要调整样品的角度,但具体要怎么操作呢?