紧急求助静电力显微镜中电场梯度成像的工作原理， 组里最近买了一台omicron的真空AFM，除了向扫描表面之外，还想进行电场梯度成像。我的助教在导电的针尖上加了一个偏压（AC bias），想测量电场梯度。

我是个新手，接触AFM 才2个月，所以想请教各位，在经过这个改变后，我们的AFM 是不是就可以测电场梯度了，另外，静电力显微镜中电场梯度成像的3个方法中，相检测 (phase detection)、频率调制 (frequency modulation)和振幅检测 (amplitude detection) 的工作原理是怎样的。哪个个方式更合适我们的AFM呢
请多多指教咯^__^