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共有 9 人回复了该问答PE和瓦里安ICP的CCD检测器抗溢出技术
 回复tanghuizhi01发表于:2010/4/15 16:27:33悬赏金额:60积分 状态:已解决
PE和瓦里安的全谱直读ICP的CCD检测器使用的是怎样抗饱和溢出技术?

知道其他厂家的也行,越详细越好!
luxw 回复于:2010/4/17 12:51:44
    CCD是电荷偶合固体检测器,是将电荷在检测单元之间逐个转移到一个具有电荷感应放大器的检测单元上进行读出,每个检测单元之间不是相互独立的,其具有较高的量子效率和光谱响应范围。因栅极对光的有强烈的吸收,因此一般采用背照射式,当有强光照射到局部CCD 时存在电荷溢出现象,一般依靠信号处理电路来解决检测器的溢出问题,属于破坏性读出。
jeff_liu 回复于:2010/4/27 23:05:25
    这就是CCD检测器的缺限了,溢出就会对附近的谱线有影响,检出的效果就得不到保障。上次有个法国JY的专家来我司介绍,他们用的HDD说是没有这个问题。期待有懂的人解释一下。
fanlyy 回复于:2010/4/27 12:59:06
这都是各厂家较核心的竞争技术,不会随便公开的,就像尾焰处理技术一样
flyingncu 回复于:2010/4/17 16:10:20
板凳,等答案:)
共有 10 人回复了该问答PE和瓦里安ICP的CCD检测器抗溢出技术
 回复tanghuizhi01发表于:2010/4/15 16:27:33悬赏金额:60积分 状态:已解决
PE和瓦里安的全谱直读ICP的CCD检测器使用的是怎样抗饱和溢出技术?

知道其他厂家的也行,越详细越好!
luxw 回复于:2010/4/17 12:51:44
    CCD是电荷偶合固体检测器,是将电荷在检测单元之间逐个转移到一个具有电荷感应放大器的检测单元上进行读出,每个检测单元之间不是相互独立的,其具有较高的量子效率和光谱响应范围。因栅极对光的有强烈的吸收,因此一般采用背照射式,当有强光照射到局部CCD 时存在电荷溢出现象,一般依靠信号处理电路来解决检测器的溢出问题,属于破坏性读出。
jeff_liu 回复于:2010/4/27 23:05:25
    这就是CCD检测器的缺限了,溢出就会对附近的谱线有影响,检出的效果就得不到保障。上次有个法国JY的专家来我司介绍,他们用的HDD说是没有这个问题。期待有懂的人解释一下。
fanlyy 回复于:2010/4/27 12:59:06
这都是各厂家较核心的竞争技术,不会随便公开的,就像尾焰处理技术一样
flyingncu 回复于:2010/4/17 16:10:20
板凳,等答案:)
 回复  1# luxw  回复于:2010/4/17 12:51:44
    CCD是电荷偶合固体检测器,是将电荷在检测单元之间逐个转移到一个具有电荷感应放大器的检测单元上进行读出,每个检测单元之间不是相互独立的,其具有较高的量子效率和光谱响应范围。因栅极对光的有强烈的吸收,因此一般采用背照射式,当有强光照射到局部CCD 时存在电荷溢出现象,一般依靠信号处理电路来解决检测器的溢出问题,属于破坏性读出。
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