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共有 12 人回复了该问答
关于XRF常量分析的结果问题求助(代人求助)
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YHL-87_
发表于:2009/11/30 17:43:44
悬赏金额:
10积分
状态:
未解决
代用户求助:
我看关于XRF常量分析的结果,有的以氧化物含量的形式表示,有的却以元素含量的形式表示,不知道这两个有何差别?另外XRF能用来分析元素的价态吗?印象中一直是不能,但最近看到有些文章是用普通X荧光光谱仪分析价态的,有点疑惑。多谢解答
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1#
loaferfdu
回复于:2009/11/30 21:45:00
你实际上问了两个问题:
(1)第一个问题,关于常量分析的问题,我个人的看法是没有区别,氧化物是换算出来的。比如铁氧体成分分析,其中的金属元素都是以氧化物形态存在,比如MnZn铁氧体可以看成是Fe2O3、MnO、ZnO的复合体。那么测出Fe、Mn、Zn的强度就可以按照分子式换算了。一些商业软件已经提供了这样的功能。
(2)第二个问题,一般来说,XRF是不能分析价态的。我们都知道,特征X射线的产生取决于低能级的电子跃迁。比如Ka线光子就是L能级的电子跃迁到K能级释放的。
价态的变化通常由化学反应引起,与这些低能级的电子(所谓的内层电子)无关,它是原子失去价电子导致的。因为化学反应牵涉到的能量比较低,只会影响到高能级的电子(所谓的外层电子)。问题是,当原子失去外层电子后,它的内部能级位置变化吗?以Fe为例,比如Fe2+离子和Fe原子内部能级一样吗?
我们可以想见,失去了两个电子和Fe2+和Fe原子有着相同的质子数,但是电子数不同。理所应当,他们能级也应该稍有不同,间距也应该稍有不同,当然就会引起谱的结构发生变化。所以问题关键是失去两个电子后,能级间距变化有多大?如果变化大,我们就可以用XRF作价态分析了。
一般来说,这个能级间距变化不大,所以出射的特征X光子的能量变化也不大,通常的能量色散的EDXRF能量分辨率在120-250eV左右,不能够探测这个能量变化。要想探测这些谱的结构变化,必须要高分辨率仪器。
所以,现在有一些研究工作,研究X射线特征谱的精细结构和价态之间联系,大多是分辨率较高的通过波长色散型WDXRF结合PEAKFIT软件来完成的。这里给出两篇文章,供参考。
X射线荧光光谱在Fe、Mn化学态分析中的应用 作者:韩杰
http://www.analchem.cn/file/upload/2008/10/14/1227665779.PDF
《用普通X射线荧光光谱仪进行铁价态的定量分析》
龚 武
北京科技大学化学系,100083 北京
光谱学与光谱分析
SPECTROSCOPY AND SPECTRAL ANALYSIS
1998年12月 第18卷 第6期 No6 Vol18 1998
科技期刊
引言:
科学工作者已发现一种元素的X射线特征谱因为价态不同而引起谱的精细结构发生变化[1],国内外一些学者对硫及一些过渡金属进行分析,找出了谱带的结构与价态之间的关系,并用于一些样品的分析[2~5]。但对铁元素的价态不同而引起X射线谱的变化,人们多从原子的内部结构上讨论引起化学位移和谱形变化的原因[6~8]。本文用普通X射线荧光光谱仪,结合自编的PEAKFIT谱处理软件[9],从收集和计算的大量谱峰数据中,找出了可用于铁元素化学价态定量分析的依据,并应用于包钢铁矿石的分析,取得了良好的结果。
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