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共有 6 人回复了该问答请教xps的深度剖析
 回复duyang-250发表于:2009/11/25 2:02:33悬赏金额:100积分 状态:已解决
小弟用粉末状吸附材料对金属离子进行了吸附,现在想研究看吸附以后,金属离子有没有扩散进入吸附剂内部,就想用xps的深度剖析,但是咨询一位老师,被告知xps的深度剖析一般用来测试块状的样品,不适合测试粉末状的,请问各位前辈有没有什么好的办法~~
xps_aes 回复于:2009/11/26 11:51:05
呵呵,果然被我猜中了。看来你是铁了心了。
要做深度只能试着做。首先你要大概知道你的粉末样品平均粒度。
做压片时要尽可能避免污染。压片也要结实。可以考虑用一些对你所需要测试的元素没有影响的粘结剂(不用最好)。压片尽量的体积要小一点。
在测试的时候,就要根据每一次测试的情况来确定下一次Ar离子溅射的时间。由于表面形貌不平整,无法用台阶仪等设备来确定溅射速率,只好摸索。
由于,你的样品表面都吸附由金属离子,所以,要说明问题还要建立一个结构的模型,如果金属离子的含量有变化用它来解释,如果没变化,就可以推断内外的吸附能力是一样的。
做这个试验能不能得到你希望的结果我没有把握,怕万一没结果就白花钱了。不过想了想也没有其他什么方法能适合做这个。
 回复  1# yuansu123456  回复于:2009/11/25 12:00:09
恩,没错,粉末不能用深度剖析了
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