回复jackcong发表于：2009/4/3 13:47:46悬赏金额：
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新手提问：SEM和TEM有什么区别，比如说功能，原理等等。
越详细越好。
lqwcc 回复于：2009/9/9 10:18:04透射电镜（TEM）的放大倍数要比扫描电镜（SEM）的高,当然两则的成像原理也是不同的，如果需要观察纳米颗粒在聚合物中的分散情况，你就必须要用TEM来观察了，SEM通常看材料的缺口断面，当然还有许多其他应用。
SEM是电子束激发出表面次级电子,而TEM是穿透试样,而电子束穿透能力很弱,所以TEM样品要求很薄,只有几十nm, TEM一般放大能达几百w倍,而SEM只有几万倍.
扫描电镜通常用在一些断口观察分析,外加一个能谱仪,可以进行能谱扫描.其放大倍数相对较低,操作方便,样品制作简单,对于高聚物,须进行喷金处理 TEM则可以观看样品的内部结构,粒子的分散等.其放大倍数高于SEM,但也不是绝对,现在有些扫描电镜的放大倍数也可以很高.其操作较复杂,样品制作也较为烦琐
shxie 回复于：2009/4/3 20:52:18
原文由 nikang3148 发表:
版主回答得有些简单了，楼主我们还是找书看吧 |
要是最简单的回答：一个是扫：把电子束聚成一个小斑点，在样品上逐点扫描，得到相应的二次电子信号和背散射信号，汇集处理成像，反应样品表面5－10 nm左右的形貌，立体感强。一个是透:电子束通过磁透镜调控透过样品，投影成像，调整中间镜焦距分别可以得到衍射花样和透射像。
再具体，就得看你需要了解什么了。
tem可以观察材料内部结构和形貌，sem只能观察材料表面。
TEM,测试物质空间原子排列情况，通常测衍射花样。SEM，扫描材料表面形貌，具有较大的放大倍数和景深。要想了解清楚可以查看《材料现代分析方法》此书，或者到图书馆查阅专门的文献。
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