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共有 0 人回复了该问答GIXRD（掠入射X射线衍射）和Seeman-Bohlin的区别
 回复airui2008发表于：2009/3/30 15:17:17悬赏金额：20积分 状态：未解决
掠入射X射线衍射（GIXRD或者GID）和Seeman-Bohlin都是入射X射线以小角度入射到样品表面，经过样品表面层衍射后再射出来，这两种技术都是对表面灵敏的。在测样品的时候（比如测sapphire上面的一层Nb），用这两种方法有什么区别呢？它们对比有什么长处和问题？还有怎么确定各自的探测深度？恳请高人详细讲解，谢谢！
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