这个领域是我的盲点。以下是胡乱猜测的：
原则上XRD可以测量吸收属性，但需要注意：
1、需要仪器能进行强度可重复的多次测量；
2、准备至少两个不同吸收系数的标准样品，它们的吸收系数最好和样品吸收系数接近。
3、比较方便的操作方法是透射强度和标样比较，这时需要远离衍射条件。当然理论上也可以使用反射布局，在衍射条件下测量反射强度，但反射衍射布局不仅对标准样品的要求非常高--需要标样和待测样品具有近似相同的晶格系统和参数，在对应的衍射角下测量，而且对设备要求也非常高--需要设备能在衍射情况下对强度可重复测量，这对大多数仪器来说太困难了。