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共有 3 人回复了该问答
关于溶液中纳米颗粒的TEM时影响因素
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lipinggnipil
发表于:2007/12/24 10:52:16
悬赏金额:
15积分
状态:
已解决
实验中通过沉淀法制备一种纳米氧化物粉末,含有2%的有机物(质量比),形成水溶液,纳米颗粒存在于这种体系中,SEM结果如附件。
打算进行TEM,采用常规方法制样(颗粒在实验体系中未取出),发现干燥后有一层膜存在。
现在的问题是:打算进行TEM,考察晶型,晶胞参数测量的研究,
请问采用什么方法能够得到较清晰的TEM图象和后续晶胞参数测量等工作
querida
回复于:2007/12/24 19:56:28
那你应该考虑进一步使用沉淀的办法把有机物除去
不然即使你将溶液滴到微栅上放入TEM检测
也很难得到好的结果
因为观察的地方经电子束一照就会黑
PS:由于没有溶液制备相关经验,因此只能提供一个办法,看看你有没有条件实现。(我已经试过可以)
将你的溶液用挥发性的有机溶剂稀释(我平时用酒精),然后滴到微栅上做成TEM样品,然后使用plasmon cleanner等离子烧1分钟左右,这样可以将无机样品表面的有机物去掉。(因为微栅的关系一定要加上保护套在烧)
bairen828
回复于:2007/12/24 14:39:31
你形成的那个膜厚不厚,如果不厚的话我想你这个东西应该可以直接用铜网捞一下,然后放在电镜下就可以观察,有机物对于成像可能没多大的影响,可能试一下!
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回复
1#
bairen828
回复于:2007/12/24 14:39:31
你形成的那个膜厚不厚,如果不厚的话我想你这个东西应该可以直接用铜网捞一下,然后放在电镜下就可以观察,有机物对于成像可能没多大的影响,可能试一下!
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