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共有 3 人回复了该问答急求：Agilent ICP-MS 7500cs测多晶硅金属杂质方面的方法标准
 回复ttt2006发表于：2007/11/7 15:11:00悬赏金额：50积分 状态：已解决
急求：（1）Agilent ICP-MS 7500cs测多晶硅金属杂质方面的方法标准；
　　　（2）PE ICP-OES 5300DV用于金属硅的检测的方法标准
有相关资料的大侠请在回帖中上传附件，先谢了！
jing_liang 回复于：2007/11/7 16:49:00
你要测多晶硅是什么级别的？电子么？？
一般来说在半导体行业中，大多都用的是agilent的ICP-MS，因为这个行业作者方面的工作很难，而在这方面，agilent有很多应用的资料，另外，这个行业著名的，四川新光硅材料、洛阳中硅、以及四川峨嵋半导体都用的是agilent的仪器，但这些资料都涉及到保密信息，你很难拿到阿！
 回复  1# jing_liang  回复于：2007/11/7 16:49:00
你要测多晶硅是什么级别的？电子么？？
一般来说在半导体行业中，大多都用的是agilent的ICP-MS，因为这个行业作者方面的工作很难，而在这方面，agilent有很多应用的资料，另外，这个行业著名的，四川新光硅材料、洛阳中硅、以及四川峨嵋半导体都用的是agilent的仪器，但这些资料都涉及到保密信息，你很难拿到阿！
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