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共有 13 人回复了该问答帮忙消除SEM照片中样品晶界边线的重影

回复firefall发表于：2007/10/15 9:32:00悬赏金额：20积分状态：已解决

小弟是做电子陶瓷的，最近有机会自己操作SEM，还不熟练。
最近发现做的SEM照片中，样品晶界边线总是出现重影，特别是在高倍下更明显，我细调了焦距，水平以及对比度和亮度都不能消除。具体请看附件。
我用的仪器日立S-300N，操作系统是日文的，许多操作都靠自己摸索，很多还不明白。请求那位高手指点一二，不胜感激！

kapabulanka 回复于：2007/10/17 8:45:00

原文由 firefall 发表:
弱弱的问一句，什么是相散？怎么调节？
小弟新学的，只认识图标和几个旋钮。

理想情况下,电子束照射到样品表面形成圆形光斑。当电子束照射到样品表面形成椭圆形光斑时，沿椭圆长轴方向上的分辨率就会下降，反映在显示屏上会出现沿长轴方向的拉丝。此时需要消像散。
先调到正焦，然后调节消像散旋钮Stigma，反复进行，值到图像清晰为止。
个人意见，仅供参考。

1# firefall 回复于：2007/10/15 15:55:00

为什么没有前辈回答阿？是不是我的问题太菜了！

那位大侠帮帮忙啊！！

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